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EMC測(cè)試靜電放電測(cè)試要注意什么-EMC檢測(cè)機(jī)構(gòu)
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EMC測(cè)試靜電放電檢測(cè)要注意什么？依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)IEC 61000-4-2/GBT17626.2的定義，靜電放電就是具有不同靜電電位的物體相互靠近或直接接觸引起的電荷轉(zhuǎn)移。
靜電放電試驗(yàn)評(píng)估電子設(shè)備對(duì)人體接觸或者環(huán)境中產(chǎn)生的靜電的抗干擾能力。
靜電放電試驗(yàn)主要檢查人或物體在接觸設(shè)備時(shí)所引起的放電（直接放電），以及人或物體對(duì)設(shè)備鄰近物體的放電（間接放電）時(shí)對(duì)設(shè)備工作造成的影響。靜電放電時(shí)可以在0.5～20ns的時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生1～50A的放電電流。雖然電流很大但因持續(xù)時(shí)間很短，故能量很小。所以一般靜電放電不會(huì)對(duì)人產(chǎn)生傷害，但對(duì)集成電路芯片等電子產(chǎn)品可能產(chǎn)生破壞性的危害。
放電類型：
接觸放電、空氣放電
試驗(yàn)等級(jí)：
規(guī)定接觸放電等級(jí)有：2kv、4kv、6kv、8kv、開(kāi)放等級(jí)（用戶指定）
空氣放電等級(jí)：2kv、4kv、8kv、15kv、開(kāi)放等級(jí)（用戶指定）
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.2-2018，IEC 61000-4-2：2008
判定等級(jí)：
A級(jí)：功能和性能沒(méi)有任何影響；
B級(jí)：功能或性能有暫降，可以自動(dòng)恢復(fù)；
C級(jí)：功能或性能有暫降，需要人為干預(yù)才能恢復(fù)；
D級(jí)：硬件損壞，不可恢復(fù)。
試驗(yàn)環(huán)境條件
氣候環(huán)境：環(huán)境溫度15°C~30°C；
相對(duì)濕度30%~60%；
大氣壓力86kPa~106kPa；
電磁環(huán)境：不影響試驗(yàn)結(jié)果的環(huán)境。
試驗(yàn)布置
雖然靜電放電試驗(yàn)非常容易，但它是所有EMC測(cè)試項(xiàng)目中重復(fù)性最低的測(cè)試項(xiàng)目之一。
在做靜電放電測(cè)試時(shí)，經(jīng)常會(huì)碰到這種情況：同一個(gè)被測(cè)品在A實(shí)驗(yàn)室通過(guò)了，但是在B實(shí)驗(yàn)室卻通不過(guò)，導(dǎo)致此種情況的原因，可以總結(jié)分析出以下幾種可能：
�、儆捎跍y(cè)試設(shè)備的不同，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果的不同
�、谟捎跍y(cè)試環(huán)境的不同，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果的不同
③由于測(cè)試人員的不同，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果的不同
靜電放電電流波形的規(guī)定，主要的四個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)為：首次峰值電流Ip；上升時(shí)間Tr；30ns時(shí)的電流值I30；60ns時(shí)的電流值I60。從上表中可以看出這四個(gè)指標(biāo)的容許偏差都較大，首次峰值電流Ip為±15%，上升時(shí)間Tr為±25%，30ns時(shí)的電流值I30為±30%，60ns時(shí)的電流值I60為±30%。
做靜電放電試驗(yàn)前需要注意哪些問(wèn)題：
1、確認(rèn)產(chǎn)品具備典型的工作狀態(tài)；
2、按臺(tái)式設(shè)備還是落地式設(shè)備進(jìn)行試驗(yàn)；
3、確定施加靜電放電的部位、施加接觸放電還是空氣放電、施加放電的次數(shù)是多少；
4、依據(jù)的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)、確定測(cè)試的等級(jí)、采用的試驗(yàn)判據(jù)。
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